1、发叉式钨丝阴极电子枪。

2、二次电子探测器。

3、三级电磁透镜系统，三个物镜光阑可在真空外选择调节。

4、标准样品台位移： X=Y=50mm，Z=25mm，T=-5°～+90°，R=360°

大样品台位移：X=80mm，Y=50mm，Z=30mm，T= 0°～+90°，R=360°。

1、分辨率：钨丝阴极电子枪，二次电子像分辨率6nm左右。

2、放大倍数：12mm工作距离时15倍～25000倍连续可调。

3、电子枪高压：0～30kV。

4、信号输出：二次电子信号，背散射电子信号。

5、样品束流：约为10-12～10-6 A范围。

从电子枪发射的电子受高压加速后形成电子束，经过电磁透镜缩小聚焦在样品表面。在扫描线圈的作用下，电子束在样品的表面进行逐点扫描，电子束与样品进行交互作用，引起二次电子的发射，形成二次电子信号。这些信号随着样品表面的形貌、材料等因素的不同而变化形成信号衬度，经过视频放大器进一步放大后调制显象管的亮度，由于显象管偏转线圈和镜筒中的扫描线圈的扫描电流是同步的，所以由探测器逐点获取的二次电子信号将一一调制显象管相应点上的亮度，形成扫描图像。

1、各种动植物组织表面超微形态结构观察 。

2、 医学样品表面结构观察。

3、 金属、矿物、化工材料、纳米材料的形态结构观察。

正常